S-ICD的使用寿命
  【据《Circ :Arrhythm Electrophysiol》2015 年7 月报道】题:完全皮下植入型心律转复除颤器的寿命:来自欧洲监管试验人群的长期随访结果(作者TheunsDAMJ 等)
 
  传统植入型心律转复除颤器(ICD)的临床疗效已被多个大型随机对照试验结果所证实。尽管传统ICD可以显著降低患者恶性室性心律失常的死亡风险,但存在因静脉植入导线而造成的各种短期或长期并发症,如气胸、心脏穿孔、感染、导线移位、导线绝缘层破裂等。基于以上因素及其他需要,一种新型的ICD——完全皮下植入型除颤器(S-ICD)问世了。
 
  S-ICD系统无心内膜或心外膜除颤导线,且植入途径不需经过静脉系统。S-ICD的安全性与有效性也已被有关临床研究所证实,但尚缺乏有关S-ICD 使用寿命的数据研究。晚近,荷兰鹿特丹大学医学中心的Theuns等进行研究详细分析了S-ICD使用寿命的相关数据。
 
  该研究的观察人群来自欧洲监管试验中的55例S-ICD患者。研究主要对S-ICD的更换及移除的时间与原因进行评估及分类。S-ICD使用寿命定义为自植入起至手术更换的时间。更换的原因包括:择期更换适应证(ERI)、因过多消耗电量而提前达到ERI、器械故障及感染。将S-ICD系统永久取出定义为S-ICD移除,移除的原因包括:因需要治疗缓慢性心律失常、升级为心脏再同步治疗除颤器(CRT-D) 及抗心动过速起搏而改为经静脉植入除颤系统以及感染。
 
  研究结果显示, 入选55例患者中男性为44例(80%),37 例(67%) 有缺血性心肌病,ICD一级预防患者为43例(78%)。在S-ICD更换前死亡的患者共8例(15%),其中心脏性为3例, 非心脏性为5例,且均与S-ICD系统及手术无关。55例患者随访中位数5.8年,26例(47%) 更换S-ICD,5例(9%)移除。共4例(7%) 移除S-ICD并经静脉植入除颤系统, 其中2例升级为CRT-D、1例缓慢性心律失常、1例除颤测试无效。此外,1例因感染移除S-ICD(图1)。
 
S-ICD的使用寿命
 
  有关S-ICD更换的数据显示,更换年限中位数为5.0年(4.4~5.6 年),25例(92%)因起搏电池接近耗竭,81%的更换患者基于ERI,5例(9%) 因过多消耗电量提前达到ERI。经过5年随访, 有71%的S-ICD仍继续工作。放电方面,16例患者共接受119次放电,其中大部分患者(69%) 放电不超过5次。在该研究中,放电次数与ERI之间并无相关性(HR1.01,95%CI 0.98~1.04 ;P =0.29)。
 
  该研究发现,S-ICD的使用寿命达到了5年(即制造商的设计使用年限),但与传统的单腔及双腔ICD相比, 使用寿命略短。S-ICD能源耗竭仍是最主要的更换原因, 仅7%的更换与能源无关。5年随访中,需要转变为经静脉系统植入除颤系统,如升级为CRT-D的患者比例较低。虽然该研究的观察人数少于目前的IDE及EFFORTLESS 研究, 但5年的随访提供了有关S-ICD使用寿命的宝贵数据。
 
(首都医科大学附属北京朝阳医院   刘兴鹏  王宇星)
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